薄膜干涉光程差公式：Δr=2necosi。
薄膜干涉
是由薄膜产生的干涉。当平行光入射到薄膜上时，光线由于折射而第一次到达薄膜的上下表面，然后再次折射而第二次到达薄膜的上下表面，经亏明过上下两表面的光线的路程是一段亏明弧，路程差就是光程差，光程差除以入射光的波长就是薄膜的厚度，也就是干涉的厚度。
薄膜干涉光程差：
1、薄膜干涉光程差是指两束相干光在薄膜处产生干涉时，在透射和反射光线上的光程差。
2、对于单层薄膜，其光程差可表示为：Δr=2necosi。其中，Δr表示光程差，n表示薄膜的折射率，e表示薄膜的厚度，i表示入射光的入射角。
3、对于多层薄膜，其光程差可表示为：Δr=2ne1cosθ1+2ne2cosθ2+...+2nelcosθl。其中，Δr表示光程差，n表示薄膜的折射率，e1、e2、el分别表示各层薄膜的厚度，θ1、θ2、θl分别袭毁表示各层薄膜的入射角。
4、薄膜干涉光程差的大小会影响干涉效果，当光程差达到半波长的整数倍时，干涉效果最强；当光程差为半波长的奇数倍时，干涉效果最弱。因此，控制薄膜干涉光程差可以实现对干涉效果的控制，进而应用于光学元件的制作。
薄膜干涉光程差主袭毁要用途：
1、光学元件的制造：
薄膜干涉技术可袭毁用于制造光学元件，如增透膜、反射膜、分束器、偏振片、光学滤波器等。通过控制薄膜干涉光程差，可以实现对光学元件性能的精确控制。
2、物理性能研究：
薄膜干涉技销禅告术可用于研究物质的物理性能，如薄膜的厚度、折射率、吸收系数等。通过测量薄膜干涉光程差，可以计算出薄膜的亏明厚度和折射率销禅告等参数，进而研究物质的物理性能。
3、化学分析：
薄膜干涉技术还可用于化学分析，如通过测量薄膜干涉光程差来判断物质的化学成分。通过将待测物质制成薄膜销禅告，并将其放置在干涉仪中，可以测量出薄膜的厚度和折射率等参数，进而推断出物质的化学成分。
4、光学测量：
薄膜干涉技术可用于光学测量，如通过测量薄膜干涉光程差来测量物体的尺寸、形状、距离等。