XRD图谱峰的面积表示晶体含量，面积越大，晶相含量越高。峰窄说明晶粒大，可以用谢乐公式算晶粒尺寸。XRD图谱峰高如果是相对背地强度高，表示晶相含量高，跟面积表示晶相含量一致。
XRD图谱峰高如果是A峰相对B峰高很多，两峰的高度比“A／C”相对标准粉末衍射图对应峰的高度比要大很多，那么这个材料是A方向择优取向的热重曲线热重分析得到的是程序控制温度下物质质量与温度关系的曲线。
即热重曲线（TG）曲线，横坐标为温度或时间，纵坐标为质量，也可用失重百分数等其它形式表示。由于试样质量变化的实际过程不是在某一温度下同时发生并瞬间完成的，因此热重曲线的形状不呈直角台阶状，而是形成带有过渡和倾斜区段的曲线。
扩展资料：
通过对材料进行XRD，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息。用于确定晶体结构。其中晶体结构导致入射X射线束衍射到许多特定方向。
通过测量这些衍射光束的角度和强度，晶体学家可以产生晶体内电子密度的三维图像。 根据该电子密度，可以确定晶体中原子的平均位置，以及它们的化学键和各种其他信息。
X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。晶体可被用作X光的光栅，这些很大数目的粒子（原子、离子或分子）所产生的相干散射将会发生光的干涉作用。
参考资料来源：
峰高：对多晶来说，峰高由同方向排列的晶面分布数量(texture)决定，即：若所有晶粒为同方向排列，则此时各个晶面的峰高要大于无规律排列的晶粒。而同一图谱中不同峰高则是由每个峰对应的晶面数量决定。
峰宽：一般分析最多的数值是FWHM(半峰全宽). 峰宽受很多因素影响：从仪器角度说，因素为所用X射线的波长分布，即使是单色X射线也不完全只有唯一确定波长； 从多晶样品角度说，FWHM和晶粒大小成反比，即，晶粒直径越小对应的FWHM越大，具体计算可以参考Scherrer equation。
峰面积：也称为integral intensity。 这个值同样不是由某单一值决定，和样品本身相关的量有：该峰对应晶面的数量，晶胞体积，晶粒体积，structure factor等。
鉴别物相首先从峰位入手，如果峰位能对上，初步判定为该物质；其次，还要看各衍射峰的强度相对比是否也与标准卡片上的峰强比一致，如果都一样则可肯定为该物质。
扩展资料：
工作原理：
X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。晶体可被用作X光的光栅，这些很大数目的粒子（原子、离子或分子）所产生的相干散射将会发生光的干涉作用，从而使得散射的X射线的强度增强或减弱。
由于大量粒子散射波的叠加，互相干涉而产生最大强度的光束称为X射线的衍射线。满足衍射条件，可应用布拉格公式：2dsinθ=nλ入射光束（来自图中左上方）使每个散射体重新辐射其强度的一小部分作为球面波。
如果散射体与间隔d对称地排列，则这些球面波将仅在它们的路径长度差2dsinθ等于波长λ的整数倍的方向上同步。 在这种情况下，入射光束的一部分偏转角度2θ，会在衍射图案中产生反射点。
参考资料来源：百度百科-xrd
本回答被网友采纳峰宽：一般分析最多的数值是FWHM(半峰全宽). 峰宽受很多因素影响：从仪器角度说，因素为所用X射线的波长分布，即使是单色X射线也不完全只有唯一确定波长； 从多晶样品角度说，FWHM和晶粒大小成反比，即，晶粒直径越小对应的FWHM越大, 具体计算可以参考Scherrer equation。
峰面积：也称为integral intensity. 这个值同样不是由某单一值决定，和样品本身相关的量有：该峰对应晶面的数量，晶胞体积，晶粒体积，structure factor等。
鉴别物相首先从峰位入手，如果峰位能对上，初步判定为该物质；其次，还要看各衍射峰的强度相对比是否也与标准卡片上的峰强比一致，如果都一样则可肯定为该物质。峰形与样品是晶体还是非晶体有很大关系，如果是馒头峰则为标准的非晶，如果是明锐的尖峰则为晶体，峰越尖锐，半高宽越小，则表明晶粒越小，结晶越好。当然峰强的大小也能看出物质的含量多少，大致上，峰越强，物质含量越多。同样晶粒大小，晶格畸变，内应力的影响也会导致峰形的变化（如宽化、不对称变化等）和峰位的偏移。