厄利效应大信号模型

如题所述

在正向有源区的电子设备中,厄利效应对电流和电流放大特性产生了影响。具体来说,集电区的电流IC与正向共射极电流放大系数βF之间的关系遵循以下公式:

IC = βF * (VCE + VT) - IC0


其中,VCE代表集电极与发射极之间的电压差,VT是热电压,通常约为kT/q,约等于25毫伏(k为玻尔兹曼常数,T为绝对温度,q为电子电荷)。厄利电压(通常在15伏特至150伏特范围内,小型设备则更低)则被称为厄利电压,用VA表示。在零偏压状态下,正向共射极电流放大系数称为βF0。



在一些电路理论模型中,为了更准确地描述厄利效应,集电极电流校正系数是基于集电极-基极电压VCB,而不是直接基于集电极-发射极电压VCE来计算的。这是因为厄利效应的物理机制表明,基区宽度的变化,即集电极-基极耗尽层的宽度变化,实际上是由VCB的改变所驱动的。这种基于VCB的模型在计算机模拟软件,如SPICE中被广泛采用,它更符合厄利效应的物理原理。
扩展资料

厄利效应(英语:Early effect),又译厄尔利效应,也称基区宽度调制效应,是指当双极性晶体管(BJT)的集电极-射极电压VCE改变,基极-集电极耗尽宽度WB-C(耗尽区大小)也会跟着改变。此变化称为厄利效应,由詹姆斯·M·厄利(James M. Early)所发现。

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