与衍射图谱整体强度相关的有:
入射
光强度: 即打到样品上的
X射线强度,入射光强度越强,图谱整体强度越强.这个与狭缝/光栏的选择有关系,狭缝/光栏越大,入射光强度越强;也与光管的使用功率有关系,功率越高,入射光越强.
样品面积: 当打到样品上的X射线光斑面积大于样品面积时,样品的面积越大,参与衍射的样品量就越多,图谱整体强度越高.
每步计数时间: 即每个数据点上的累计时间.在测量时,每个点上累计的时间越长,图谱整体强度越高.
探测器端开口大小: 开口越大,探测器接收到光子越多,图谱整体强度越高.
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